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T-SCAN 10/20 3D 扫描仪

移动型计量室,三维数据采集直观 模块化 T-SCAN 系统助力实现快速检测:系统即刻捕捉零件三维数据,无需任何准备工作。手持式 T-SCAN 激光扫描仪与光学跟踪系统 T-TRACK,T-POINT 接触式探针完美结合,形成一套直观且高精度的三维计量解决方案。搭配 GOM Inspect Suite 软件套装,突破了其在三坐标测量技术领域的新高度。
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模块一体化概念

模块一体化概念和完整的激光扫描仪解决方案为各种应

用提供极高的灵活性。

 

及时发现偏差

省时省钱:该移动式测量解决方案可作用于车间现场,带

来直观的零件分析,测量,以及数模建立。

 

用户引导性的软件工作流程

T-SCAN 系统现与 GOM Inspect Suite 软件套装结合。用

户可在视察器上实时查看扫描进度,并在扫描,探针探测和检测过程中获得软件操作提示。

移动式测量系统 两种适配选择

 

手持式激光扫描仪可同时与接触式探针,以及另外

两款光学跟踪系统搭配使用。蔡司 T-TRACK 20 作

为一套技术装备成熟的系统,最大可覆盖20 m³的

测量体积,全新蔡司 T-TRACK 10 则适用于较小的

测量体积,满足更高的精度要求。

 

数据轻松捕捉手持式激光扫描仪ZEISS T-SCAN

 

T-SCAN 扫描仪可进行快速,直观的三维数据采集。手持式设计符合人体工学,扫描轻松不费力。测头轻巧,结构紧凑,尤其适用于可及性非常差的零件部位的数据采集。

 

 

 

 
多尺寸测量ZEISS T-TRACK 20

 

蔡司 T-TRACK 20的测量体积可达20 m³。单次

设置即可测量大至4m的零件。上手容易,您可

高效,准确,快速地采集到三维数据只需将

零件放入其跟踪体积范围内,即可进行测量,

无需准备参考点。可追溯的精度确保数据重复性

和可靠性。

 

 

 

高精度测量ZEISS T-TRACK 10

 

全新 T-TRACK 10 光学跟踪系统的测量体积可达10 m³, 与T-SCAN10 结合,只需进行一次设置,就可以测量长达2.5 m的零件。配备高品质的蔡司光学元件,尤其适用于对精度有高要求的工业应用。可追溯的精度确保数据重复性和可靠性。

 

快速单点测量ZEISS T-POINT

 

蔡司 T-POINT 接触式探针是对物体标准几何形状,切边区

域,以及光测量手段难以进入的死角区域进行单点测量的

理想解决方案。它可以快速,稳定地采集到目标位置的三

维数据。该设备可以与传统的测量探针一起使用,更换起

来方便快捷

扩展您的测量体积ZEISS T-SCAN SMTs

 

通过使用 T-SCAN SMT(球形标靶),您可以进一步扩展测量体积,甚至结合多个蔡司 T-SCAN 系统使用。 当被测零件尺寸过大,或者表面形状阻碍激光投射时,您可以将这个方便的多位置跟踪应用程序安装到物体上,从而获得精度一致的三维数据。

 

 

高过程可靠性GOM Inspect Suite

GOM Inspect Suite 拥有成熟的三维计量体系标准。

蔡司 T-SCAN 目前与 GOM Inspect Suite 多合一软件

解决方案实现同步结合。测量和检测均可以在软件

中执行,全参数化的工作流程确保所有过程步骤的

可追溯性。此外软件提供用户操作指引,可辅助用

户进行扫描和探测,从而简化并加快工作流程。

 

快速和高精度三维扫描

一系列出色的产品技术特征,比如适用于扫描各类物体表面

的高动态范围,创新摄像技术,高品质蔡司光学元件和高数

据速率结合,确保了流畅的扫描过程和精确的测量结果。

 

动态参考

即使在移动的物体上也能高精度采集三维数据。动态参考可以让您不受零部件运动和震动等恶劣条件影响,高效完成测量任务。

 

广应用范围:

 

质量控制/ 检测

  • 标称与实际数据对比
  • 零件边界和边缘数据获取(钣金件)
  • 复杂焊接结构的检测
  • 车间检测

模具和模型制造

  • 模具重建
  • 扫描数据以生成加工路径
  • 对过审模具进行实际数据采集
  • 捕捉复杂零件动态,例如捕捉装夹过中的变形数据

产品开发和设计

  • 高动态范围,可扫描各种表面
  • 扫描设计模型用于CAD下游处理和和存档
  • 量具和夹具设置
  • 快速采集参考几何形状和指定区域
关键词:
ZEISS T-SCAN 10/20 3D 扫描仪
未找到相应参数组,请于后台属性模板中添加

• ZEISS T-SCAN 手持式激光扫描仪技术参数

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• ZEISS T-TRACK 10 技术参数

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• ZEISS T-TRACK 20 技术参数

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2022-09-27 13:37:53
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